1檢測(cè)前，應(yīng)對(duì)超聲儀的主要技術(shù)指標(biāo)（如斜探頭入射點(diǎn)、斜率K值或角度）進(jìn)行檢查確認(rèn)；應(yīng)根據(jù)所測(cè)工件的尺寸調(diào)整儀器時(shí)基線，并應(yīng)繪制距離-波幅(DAC)曲線。2 距離-波幅(DAC)曲線應(yīng)由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制而成。當(dāng)探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，距離-波幅(DAC)曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。距離﹣波幅(DAC)曲線的繪制應(yīng)符合下列要求： 1 繪制成的距離-波幅曲線（圖7．3．2）應(yīng)由評(píng)定線EL、定量線SL和判廢線RL組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）的區(qū)域規(guī)定為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）的區(qū)域規(guī)定為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域規(guī)定為Ⅲ區(qū)。
圖7．3．2 距離-波幅曲線示意圖
2 不同檢驗(yàn)等級(jí)所對(duì)應(yīng)的靈敏度要求應(yīng)符合表7．3．2的規(guī)定。表中的DAC應(yīng)以Φ3橫通孔作為標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制距離-波幅曲線（即DAC曲線）。在滿足被檢工件最大測(cè)試厚度的整個(gè)范圍內(nèi)繪制的距離-波幅曲線在探傷儀熒光屏上的高度不得低于滿刻度的20％。
3 超聲波檢測(cè)應(yīng)包括探測(cè)面的修整、涂抹耦合劑、探傷作業(yè)、缺陷的評(píng)定等步驟。4 檢測(cè)前應(yīng)對(duì)探測(cè)面進(jìn)行修整或打磨，清除焊接飛濺、油垢及其他雜質(zhì)，表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)6．3μm。當(dāng)采用一次反射或串列式掃查檢測(cè)時(shí)，一側(cè)修整或打磨區(qū)域?qū)挾葢?yīng)大于2．5Kδ；當(dāng)采用直射檢測(cè)時(shí)，一側(cè)修整或打磨區(qū)域?qū)挾葢?yīng)大于1．5Kδ。5 應(yīng)根據(jù)工件的不同厚度選擇儀器時(shí)基線水平、深度或聲程的調(diào)節(jié)。當(dāng)探傷面為平面或曲率半徑R大于W2/4時(shí)，可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線的調(diào)節(jié)；當(dāng)探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合的形狀，反射體的布置可參照對(duì)比試塊確定，試塊寬度應(yīng)按下式進(jìn)行計(jì)算：
b≥2λS/De （7．3．5）
式中：b——試塊寬度(mm)； λ——波長(zhǎng)(mm)； S——聲程(mm)； De——聲源有效直徑(mm)。6 當(dāng)受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減與試塊不同時(shí)，宜考慮表面補(bǔ)償或材質(zhì)補(bǔ)償。7 耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)材料和人體有損傷作用，同時(shí)應(yīng)便于檢測(cè)后清理。當(dāng)工件處于水平面上檢測(cè)時(shí)，宜選用液體類耦合劑；當(dāng)工件處于豎立面檢測(cè)時(shí)，宜選用糊狀類耦合劑。8 探傷靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線靈敏度。掃查速度不應(yīng)大于150mm/s，相鄰兩次探頭移動(dòng)區(qū)域應(yīng)保持有探頭寬度10％的重疊。在查找缺陷時(shí)，掃查方式可選用鋸齒形掃查、斜平行掃查和平行掃查。為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭掃查方式。9 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度。缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定可采用以下兩種方法： 1 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí)，宜用降低6dB相對(duì)靈敏度法測(cè)定其長(zhǎng)度； 2 當(dāng)缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則宜以缺陷兩端反射波極大值之處的波高降低6dB之間探頭的移動(dòng)距離，作為缺陷的指示長(zhǎng)度（圖7．3．9）。
圖7．3．9 端點(diǎn)峰值測(cè)長(zhǎng)法
3 當(dāng)缺陷反射波在Ⅰ區(qū)未達(dá)到定量線時(shí)，如探傷者認(rèn)為有必要記錄時(shí)，可將探頭左右移動(dòng)，使缺陷反射波幅降低到評(píng)定線，以此測(cè)定缺陷的指示長(zhǎng)度。
10 在確定缺陷類型時(shí)，可將探頭對(duì)準(zhǔn)缺陷作平動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)掃查，觀察波形的相應(yīng)變化，并可結(jié)合操作者的工程經(jīng)驗(yàn)作出判斷。
