1.什么是無損探傷/無損檢測?
答:(1)無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對被檢驗部件的表面和內部質量進行檢查的一種測試手段。
?。?)無損檢測:Nondestructive Testing(縮寫 NDT)
2、常用的探傷方法有哪些?
答:無損檢測方法很多據美國國家宇航局調研分析,認為可分為六大類約70余種。但在實際應用中比較常見的有以下幾種:
常規(guī)無損檢測方法有:
●超聲檢測 Ultrasonic Testing(縮寫 UT);
●射線檢測 Radiographic Testing(縮寫 RT);
●磁粉檢測 Magnetic particle Testing(縮寫 MT);
●滲透檢驗 Penetrant Testing (縮寫 PT);
●渦流檢測Eddy current Testing(縮寫 ET);
非常規(guī)無損檢測技術有:
●聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE);
●泄漏檢測Leak Testing(縮寫 UT);
●光全息照相Optical Holography;
●紅外熱成象Infrared Thermography;
●微波檢測 Microwave Testing
3、超聲波探傷的基本原理是什么?
答:超聲波探傷儀的種類繁多,但在實際的探傷過程,脈沖反射式超聲波探傷儀應用的最為廣泛。一般在均勻的材料中,缺陷的存在將造成材料的不連續(xù),這種不 連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致,由反射定理我們知道,超聲波在兩種不同聲阻抗的介質的交界面上將會發(fā)生反射,反射回來的能量的大小與交界面兩邊介質聲阻抗 的差異和交界面的取向、大小有關。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據這個原理設計的。
目前便攜 式的脈沖反射式超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的,所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離,縱坐標是超聲波反 射波的幅值。譬如,在一個鋼工件中存在一個缺陷,由于這個缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個不同介質之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同, 當發(fā)射的超聲波遇到這個界面之后,就會發(fā)生反射(見圖1 ),反射回來的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形,橫坐標的這個位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。這個 反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質。
4、超聲波探傷的主要特性有哪些?
答:(1)超聲波在介質中傳播時,在不同質界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時,則超聲波在缺陷上反射回來,探傷儀可將反射波顯示出來;如缺陷的尺寸甚至小于波長時,聲波將繞過缺陷而不能反射;
?。?)波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質中輻射,易于確定缺陷的位置。
?。?)超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波所傳播的能量,相當于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬倍。
5.超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點?
答:超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對人體無害等優(yōu)點;缺點是對工作表面要求平滑、要求富有經驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類、對缺陷沒有直觀性;超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗。
6、超生波探傷板厚14毫米時,距離波幅曲線上三條主要曲線的關系怎樣?
答:測長線 Ф1 х 6 -12dB
定量線 Ф1 х 6 -6dB
判度線 Ф1 х 6 -2dB
7、簡述超生波探傷中,超生波在介質中傳播時引起衰減的原因是什么?
答:(1)超聲波的擴散傳播距離增加,波束截面愈來愈大,單位面積上的能量減少。
?。?)材質衰減一是介質粘滯性引起的吸收;二是介質界面雜亂反射引起的散射。
8、用超生波探傷時,底波消失可能是什么原因造成的?
答:(1)近表表大缺陷;(2)吸收性缺陷;(3)傾斜大缺陷;(4)氧化皮與鋼板結合不好。
9、CSK-ⅡA試塊的主要作用是什么?
答:(1)校驗靈敏度;(2)校準掃描線性。
10.超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則?
答:(1)聲束掃查到整個焊縫截面;
(2)聲束盡量垂直于主要缺陷;
(3)有足夠的靈敏度。
11、用超生波對餅形大鍛件探傷,如果用底波調節(jié)探傷起始靈敏度對工作底面有何要求?
答:(1)底面必須平行于探傷面;
(2)底面必須平整并且有一定的光潔度。
12、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成?
答:主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。
13、發(fā)射電路的主要作用是什么?
答:由同步電路輸入的同步脈沖信號,觸發(fā)發(fā)射電路工作,產生高頻電脈沖信號激勵晶片,產生高頻振動,并在介質內產生超聲波。
14、超聲波探傷中,晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么?
答:晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙,會使超聲波完全反射,造成探傷結果不準確和無法探傷。
15、JB1150-73標準中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么?
答:(1)無底波只有缺陷的多次反射波。
(2)無底波只有多個紊亂的缺陷波。
?。?)缺陷波和底波同時存在。
16、JB1150-73標準中規(guī)定的距離――波幅曲線的用途是什么?
答:距離――波幅曲線主要用于判定缺陷大小,給驗收標準提供依據它是由判廢線、定量線、測長線三條曲線組成;
判廢線――判定缺陷的最大允許當量;
定量線――判定缺陷的大小、長度的控制線;
測長線――探傷起始靈敏度控制線。
17、什么是超聲場?
答:充滿超聲場能量的空間叫超聲場。
18、反映超聲場特征的主要參數是什么?
答:反映超聲場特征的重要物理量有聲強、聲壓聲阻抗、聲束擴散角、近場和遠場區(qū)。
19、探傷儀最重要的性能指標是什么?
答:分辨力、動態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。
20、超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種?
答:(1)A型顯示示波屏橫坐標代表超聲波傳遞播時間(或距離),縱坐標代表反射回波的高度;(2)B型顯示示波屏橫坐標代表超聲波傳遞播時間(或距 離),這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖;(3)C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面,這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置,但不能給出缺陷的埋藏深度。
21、超聲波探頭的主要作用是什么?
答:1、 探頭是一個電聲換能器,并能將返回來的聲波轉換成電脈沖;2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度,當改變探頭入射 角或改變超聲波的擴散角時,可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質內部或改變聲波的指向性,提高分辨率;3、實現(xiàn)波型轉換;4、控制工作頻率;適用于不 同的工作條件。
22、為什么要加強超波探傷合錄和報告工作?
答:任何工件經過超聲波探傷后,都必須出據檢驗報告以作為該工作質量好壞的憑證,一份正確的探傷報告,除建立可靠的探測方法和結果外,很大程度上取決于原始記錄和最后出據的探傷報告是非常重要的,如果我們檢查了工件不作記錄也不出報告,那么探傷檢查就毫無意義。
23、無損檢測有哪些應用
應用時機:設計階段;制造過程;成品檢驗;在役檢查。
應用對象:各類材料(金屬、非金屬等);各種工件(焊接件、鍛件、鑄件等);各種工程(道路建設、水壩建設、橋梁建設、機場建設等)。http://www.industryinspection.com
24、超聲波焊縫探傷時為缺陷定位儀器時間掃描線的調整有哪幾種方法?
答:有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法
25、在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類?怎樣進行分類?
答:在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分成三類:點狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。
在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點狀缺陷;一般不測長,小于10mm的缺陷按5mm計。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。
26、超聲波試塊的作用是什么?
答:超聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的性能,確定探傷起始靈敏度,校準掃描線性。
27、什么是斜探頭折射角β的正確值?
答:斜探頭折射角的正確值稱為K值,它等于斜探頭λ射點至反射點的水平距離和相應深度的比值。
28、當局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時如何辦?
答:應在缺陷的延長方向或可疑部位作補充射線探傷。補充檢查后對焊縫質量仍然有懷疑對該焊縫應全部探傷。
29、超聲波探傷儀中同步信號發(fā)生器的主要作用是什么?它主要控制哪二部分電路工作?
答:同步電路產生同步脈沖信號,用以觸發(fā)儀器各部分電路同時協(xié)調工作,它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。
30、無損檢測的目的?
答:1、改進制造工藝;2、降低制造成本;3、提高產品的可能性;4、保證設備的安全運行。
31.超探儀的作用及主要應用行業(yè)
超 探儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器,它能夠快速便捷、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷(焊縫、裂紋、夾雜、折疊、氣孔、砂眼等)的檢測、定位、評估和 診斷。既可以用于實驗室,也可以用于工程現(xiàn)場。本儀器能夠廣泛地應用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測和質量控制的領域,也廣泛應 用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢查與壽命評估。它是無損檢測行業(yè)的必備儀器。
編號 |
應用行業(yè) |
1 |
電力 |
2 |
鍋爐與壓力容器 |
3 |
機械 |
4 |
鋼鐵工業(yè) |
5 |
鋼結構 |
6 |
石油 |
7 |
化工 |
8 |
鐵路 |
9 |
航天航空 |
10 |
船舶 |
11 |
管道 |
12 |
高校 |
13 |
永磁 |
14 |
科研院所 |
15 |
軍工 |
16 |
陶瓷 |
32.有關超聲波探傷的國家標準和行業(yè)標準 |
超聲波探傷國家標準和行業(yè)標準有: |
33.斜探頭K值與角度的對應關系
NO. |
K值 |
對應角度 |
1 |
K1 |
對應45度 |
2 |
K1.5 |
對應56.3度 |
3 |
K2 |
對應63.4度 |
4 |
K2.5 |
對應68.2度 |
5 |
K3 |
對應71.6度 |
34. 焊縫探傷超聲波探頭的選擇方案參考
編號 |
被測工件厚度 |
選擇探頭和斜率 |
選擇探頭和斜率 |
1 |
4—5mm |
6×6 K3 |
不銹鋼:1.25MHz |
2 |
6—8mm |
8×8 K3 |
|
3 |
9—10mm |
9×9 K3 |
|
4 |
11—12mm |
9×9 K2.5 |
|
5 |
13—16 mm |
9×9 K2 |
|
6 |
17—25 mm |
13×13 K2 |
|
7 |
26—30 mm |
13×13 K2.5 |
|
8 |
31—46 mm |
13×13 K1.5 |
|
9 |
47—120 mm |
13×13( K2—K1) |
|
10 |
121—400 mm |
18×18 ( K2—K1) |
注:以上方案僅作參考,各企業(yè)可視具體情況稍作改動
35.探頭型號表
注:下表所列探頭型號僅供探傷時參考
產品名稱 |
頻率(MHZ) |
晶片面積(mm2) |
說明 |
直探頭(硬保護膜) |
0.5~10 |
Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24Φ30 |
|
直探頭(軟保護膜) |
0.5~5 |
Φ10 Φ14 Φ20 Φ24 |
|
雙晶片直探頭 |
2.5~5 |
10×12×2Φ14×2Φ20×2 |
F5 F10 F15 F20 F30 |
斜探頭 |
1~5 |
9×9 8×8 10×12 Φ14 |
30o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3 |
斜探頭 |
1~5 |
18×18 |
|
雙晶片斜探頭 |
2.5 5 |
8×8×2 10×12×2 |
K1 K2 K3 |
表面波探頭 |
2.5 5 |
9×9 10×12 13×13 |
HB-50 |
回波探頭 |
? |
? |
? |
小角管探頭 |
2.5 5 |
Φ14 Φ20 |
|
小角管探頭 |
5 |
6×6 5×7 |
K1 K2 K2.5 K3 |
小角管探頭 |
5 |
雙晶曲面片 |
? |
板波探頭 |
1~5 |
20×20? 30×30 |
入射角由用戶定 |
爬波探頭 |
1~5 |
? |
|
薄波探頭 |
5 |
? |
可檢測5MM以下薄板 |
可變角探頭 |
2.5 5 |
10×10 |
角度可變范圍0o~90o |
液浸式探頭 |
1~5 |
Φ10 Φ12 Φ14 Φ20 |
? |
充水探頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
? |
雙晶充水探頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
交距由用戶定 |
液浸聚焦探頭 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
點聚焦線聚焦 |
接觸式聚焦直探頭 |
2.5? 5 |
Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
接觸式聚焦斜探頭 |
2.5? 5 |
Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
常規(guī)測厚探頭 |
1~5 |
? |
? |
小徑管測厚探頭 |
1~5 |
Φ8 |
? |
中溫測厚探頭 |
1~5 |
? |
上限300℃ |
高溫測厚探頭 |
1~5 |
? |
上限500℃ |
深水探頭 |
1~5 |
? |
用于水下超聲探傷 |